Инженерные основы измерений нанометровой точности

Жанр: Разное
Автор:
Издательство:
Интеллект
Год:
2012
Количество страниц:
400
Формат:
PDF (20.00 МБ)
Дата загрузки:
16 декабря 2014
Описание:
Книга известного специалиста Национальной Физической Лаборатории (NPL, Великобритания) последовательно рассматривает инженерные аспекты достижения нано метровой точности измерений перемещений и параметров рельефа поверхности, контроля параметров макрообъектов с помощью координатно-измерительных машин, различных зондовых, оптических и электронных средств измерений (включая вопросы обеспечения прослеживаемое измерений длины с помощью лазерной интерферометрии и калибровочных образцов). Также рассмотрены вопросы прецизионных измерений масс. Для студентов и преподавателей технических университетов, специалистов промышленных предприятий, инженеров-разработчиков и исследователей.

Внимание


Посетители, находящиеся в группе Гости, имеют ряд ограничений .
После регистрации будут доступны все ссылки для скачивания, открыты комментарии, а также скрыта реклама на сайте.

Книги

Художественная литература

Фантастика

Детектив

Детская литература

Юмор. Комиксы.

Кулинария

Эротика и секс (18+)

Семья